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品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
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組件類別 | 光學元件 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,化工,電子 |
Edmund 近紅外 (NIR) 檢測YAGLASS-T濾光片
將近紅外光轉換為可見光
30mW/mm2 @ 1064nm 發射的最小靈敏度
用于高功率應用的激光檢測卡的理想替代品
還提供用于將紫外線轉換為可見光的熒光玻璃濾光片
Edmund 近紅外 (NIR) 檢測YAGLASS-T濾光片將 900 - 1070 nm 之間的近紅外 (NIR) 光轉換為發射波長為 550 和 660 nm 的可見光。 這些摻雜納米晶體的玻璃濾光片可在 1064nm 處發出低至 30mW/mm2 入射光的可見光,而不會出現光暈或需要預充電。 玻璃的高透明度允許輕松查看光束大小、形狀和模式。 NIR 檢測 YAGLASS-T 濾光片具有 51 J/cm2 @ 1064nm、10ns 的高損傷閾值,使其成為具有 Nd:YAG、Nd:摻雜和 Yb 在內的 NIR 激光器的高功率激光應用中激光檢測卡的理想替代品: 摻雜激光器。 NIR 檢測 YAGLASS-T 濾光片有標準 12.5 和 25mm 直徑尺寸可供選擇; 如果您的應用需要自定義尺寸,請聯系我們。
通用規格
基底: | YAGLASS-T | 厚度 (mm): | 3.00 ±0.10 |
激發波長 (nm): | 900 - 1070 | 鍍膜: | Uncoated |
峰值發射波長 (nm): | 550, 660 | 折射率 nd: | 1.539 |
最/低靈敏度: | 30 mW/mm2@ 1064nm | 轉變溫度 (°C): | 584 |
損傷閾值 脈沖: | 51 J/cm2@ 1064nm, 10ns |
產品型號
Dia. (mm) | 產品編碼 |
12.50 | #17-254 |
25.00 | #17-255 |
技術數據
產品咨詢